JJS-II 光导型抗干扰介损 该仪器是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。它淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强，测试时间短等优点;另外,本仪器针对电容式电压互感器(CVT)试验困难的特点,增设了自激法测试,无需外接标准电容器、调压器,使得测试非常简单可靠,是我厂的第四代智能化介质损耗测试仪。 JJS-II 光导型抗干扰介损 技术指标 1、环境：-5℃～40℃（液晶屏应避免长时间日照）
2、相对湿度：30%～70%
3、供电电源：电压：220V±10%，频率50±Hz
4、外形尺寸：长*宽*高=435mm*300mm*300mm
5、重量：20kg
6、输出功率：1KVA
7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）
8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法、自激法
9、测量范围：内接试验电压：≤60000PF
外接试验电压：由外接试验变压器输出功率而定
10、基本测量误差：
介质损耗（tgδ）：2%±0.09% 电容容量（Cx）：1.5%±2pF
三、结构
仪器为升压与测量一体化结构，输出电压2.5KV~10KV五档可调，以适应各种需要，在测量时无需任何外部设备。接线与QSI电桥相似，但比其方便。