如果您对该产品感兴趣的话,可以
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产品名称:
远程光纤测试系统
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产品型号:PK756C
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生产厂商:美国PK756C
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简单介绍
美国PK756C远程光纤测试系统；PK756C为远程光纤测试系统（RFTS）和植入式测试系统应用提供一系列OTDR和OSA卡； PK 756的植入式OTDR卡基于对高性能光特性测试与测量设备超过15年的开发经验。我们的高分辨率、高动态范围的卡是集成到RFTS系统进行短距离和长距离监测应用的理想之选；PK 756为RFTS应用提供单模和多模OTDR卡。详细参数见产品详细内容，.....
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远程光纤测试系统
的详细介绍 |
 ★特价产品★ |
美国PK756C
PK756C为远程光纤测试系统（RFTS）和植入式测试系统应用提供一系列OTDR和OSA卡； PK 756的植入式OTDR卡基于对高性能光特性测试与测量设备超过15年的开发经验。我们的高分辨率、高动态范围的卡是集成到RFTS系统进行短距离和长距离监测应用的理想之选；PK 756为RFTS应用提供单模和多模OTDR卡。多个操作波长可被用于备纤或在线光纤的测试；所有的OTDR卡都提供PCI或cPCI接口。所有的卡均为紧凑设计，可以抵御温度的急剧变化及各种艰苦的外场操作环境。至于完整的RFTS解决方案，PK为您提供QUESTfiber远程光纤测试和管理系统。带有智能的远端测试设备（RTUs）的QUESTfiber RFTS，可提供高动态范围的测试模块、可扩展的光开关以及易于集成的 OSS接口，能够帮助用户快速配置远程光纤监测系统、扩大投资回报。
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美国PK756C 描述：
美国PK756C 特点：
可快速集成到RFTS系统中；
结构紧凑，可集成到传输系统中；
基于业界领先的PK mini-OTDR的性能；
高动态范围和极佳的分辨率；
结构紧凑；
PCI和cPCI接口。
美国PK756C 特性：
激
光
特
性 | 中心波长 | 1625nm±20nm | | 时间盲区 | ≤45m,脉冲宽度(PW)=50ns,回波损耗35dB时 | | 衰减盲区 | ≤85m,PW=50ns,回波损耗36dB时 | | 动态范围 | 40 dB | 测
量
特
性 | 测距精度 | 0.001*被检测光纤通道的光学长度 | | 衰减读出分辨率 | 0.001dB | | 线性度 | ≤0.5dB/dB | | 离散反射率测量精度 | ≤2.0dB | | 群折射率设置范围 | 1.4000~1.6000 | 产
品
规
格 | 光纤连接器 | FC/PC | | 数据接口 | ISA、驱动程序和测试开发接口 | 环
境
参
数 | MTBF | 30年 | | 工作温度 | 0℃~+50℃ | | 相对湿度 | +30℃时不大于90%（无冷凝） | | 贮存温度 | -20℃~+70℃ |
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